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N° de artículo LEI356121
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GPM3 Micrómetro de placas planas
2006 - 2008
Aumenta la precisión de los niveles de ingeniero Leica NA2 o NAK2
El micrómetro de placa plana puede fijarse por encima del objetivo del telescopio. Esto convierte al NA2 o NAK2 en el nivel de precisión perfecto para mediciones de deformación o levantamientos industriales.
Garantía / Meses : 24
Características
- Como extensión del nivel para la nivelación de precisión y
Medidas de control.
- Lectura cómoda a través de la escala de cristal brillante.
- Fácil manejo gracias a la fijación en el extremo del ocular.
Video
Especificaciones
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Desviación estándar para 1km de doble nivelación
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0,3 mm
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Leica N° de artículo
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356121
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Lectura cómoda a través de la escala de cristal brillante.
Como extensión del nivel para la nivelación de precisión y
Medidas de control.